Phương pháp mới đo lường sự tiêu tán năng lượng trong các thiết bị siêu nhỏ
Để phát triển
các thế hệ máy tính và thiết bị điện tử trong tương lai, các nhà khoa
học cần hiểu rõ cách những hệ thống này tiêu thụ và thất thoát năng
lượng ở cấp độ vi mô. Tuy nhiên, việc đo lường năng lượng trong các
thiết bị cực nhỏ không hề đơn giản, bởi các quá trình xử lý thông tin,
lưu trữ dữ liệu và truyền năng lượng trong chúng luôn diễn ra trong
trạng thái không cân bằng nhiệt động - tức là năng lượng liên tục chảy
qua hệ thống thay vì đạt tới trạng thái ổn định.
Trong
một nghiên cứu mới công bố trên tạp chí Nature Physics, các nhà khoa
học tại Đại học Stanford đã phát triển một kỹ thuật mới cho phép định
lượng trực tiếp sự tiêu tán năng lượng trong các hệ nano phức tạp với độ
nhạy rất cao. Phương pháp này kết hợp giữa mô hình lý thuyết, thí
nghiệm vật lý và học máy, qua đó giúp đo được chi phí năng lượng trong
các quá trình không cân bằng, điều vốn rất khó thực hiện trước đây.
Nhóm
nghiên cứu sử dụng chấm lượng tử - các tinh thể nano cực nhỏ có khả
năng phát sáng do các hiệu ứng lượng tử. Bằng cách theo dõi hành vi phát
sáng của các chấm lượng tử, các nhà khoa học có thể đo việc sinh
entropy, một đại lượng vật lý cho biết mức độ không thuận nghịch của một
quá trình. Đại lượng này đồng thời phản ánh mức độ mất mát thông tin,
chi phí năng lượng và các giới hạn vật lý liên quan đến tốc độ xử lý của
thiết bị. Nhờ vậy, các phép đo có thể giúp xác định thiết bị có thể
hoạt động nhanh đến đâu và đạt hiệu suất năng lượng tối đa như thế nào.
Theo
Grant Rotskoff, phó giáo sư hóa học tại Stanford và đồng tác giả nghiên
cứu, việc đo trực tiếp entropy trong các hệ vật liệu thực là một thách
thức rất lớn. Ông cho biết ban đầu cần nhiều bằng chứng để thuyết phục
rằng phương pháp này thực sự đo đúng đại lượng cần thiết, bởi đây là một
trong những phép đo khó nhất trong vật lý thống kê thực nghiệm.
Trong
các hệ thống nhiệt động học quen thuộc như động cơ, hiệu suất năng
lượng có thể được đo khá dễ dàng. Nhưng khi thu nhỏ xuống thang nano
hoặc lượng tử, các công cụ đo truyền thống không còn hiệu quả. Điều này
tạo ra khoảng cách lớn giữa các mô hình lý thuyết và khả năng kiểm chứng
bằng thí nghiệm. Để vượt qua trở ngại này, nhóm nghiên cứu đã khai thác
một đặc tính đặc biệt của chấm lượng tử: chúng nhấp nháy ánh sáng theo
những mô hình thống kê nhất định. Khi không có trường điện tác động, sự
nhấp nháy tuân theo một quy luật thống kê ổn định. Khi trường điện được
bật, mô hình này thay đổi, khiến hệ chuyển sang trạng thái không cân
bằng. Chính sự thay đổi này cho phép các nhà khoa học theo dõi cách năng
lượng và thông tin bị tiêu tán trong hệ. Sau khi thu thập dữ liệu thí
nghiệm, họ sử dụng thuật toán học máy để tối ưu hóa các tham số trong mô
hình vật lý mô tả hệ thống. Từ mô hình đã hiệu chỉnh này, nhóm nghiên
cứu có thể tính toán chính xác lượng entropy được tạo ra trong các chấm
lượng tử.
Công trình này tận dụng nhiều
tiến bộ gần đây trong lĩnh vực thị giác máy tính, học máy và năng lực
tính toán, những yếu tố trước đây chưa đủ phát triển để cho phép thực
hiện các phép đo phức tạp như vậy. Nhờ các công cụ mới, việc theo dõi và
phân tích hành vi của các chấm lượng tử ở quy mô lớn đã trở nên khả
thi.
Ý nghĩa đối với công nghệ tương lai
Theo
các nhà nghiên cứu, phương pháp mới không chỉ giúp hiểu rõ hơn về cách
năng lượng bị tiêu tán trong các hệ vật lý nhỏ mà còn có thể trở thành
công cụ quan trọng để thiết kế các thiết bị điện tử tiêu thụ ít năng
lượng, ổn định và hoạt động nhanh hơn. Khi có thể đo trực tiếp sự tiêu
tán năng lượng trong các hệ không cân bằng, các nhà khoa học sẽ có cơ sở
để tìm ra những cách tối ưu hóa quá trình vận hành của thiết bị. Nhóm
nghiên cứu cho rằng việc hiểu rõ các giới hạn vật lý của quá trình xử lý
thông tin ở cấp độ nano có ý nghĩa công nghệ lớn, bởi nó có thể giúp
định hình những thế hệ máy tính và thiết bị điện tử hiệu suất cao trong
tương lai.